입자들뜨기X선분석법[particle induced X-
ray emission, PIXE]
이온들뜨기X선분석법이라고도 하고 PIXE로 약칭한다. 최신의 기기원소분석법의 하나로 가속한 양성자, α입자 등의 하전입자를 시료 표면에 조사하고, 발생하는 특
성X선을 검출하여 원소분석한다. 전자들뜨기의 EPMA 또는 X선들뜨기의 형광X선분석법에 비해 백그라운드가 낮으므로 10-12～10-15g의 고감도 다원소동시분석이 가능한 점이 특징이다. 1～3MeV의 에너지를 가진 양성자빔이 사용되는 경우가 많다. 가속기로는 이온가속기, 탠덤가속기, 사이클로트론 등이 쓰인다.
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