X선분석법[X-ray analysis]
X선회절분석법과 형광X선분석법으로 대별된다. 전자는 X선이 결정(結晶)에 따라 회절되는 것을 이용하고 회절X선의 회절각도와 강도에서 그 결정물질을 확인한다. 그 때 다수 결정성물질의 회절피크에 대한 격자결정면간격, 격자면지수, 강도 등을 게재한 JCPDS카드(Joint Committee on Powder Diffraction) 등을 비교의 참고로 한다. 후자는 X선을 물질에 접촉하면 그 물질의 원소에서 고유의 X선스펙트럼이 방출되므로, 그 파장과 강도를 측정하면 정성분석 및 정량분석이 가능하다.
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