X선마이크로애널리시스[X-ray microanalysis, XMA]
XMA로 약칭. 시료에 진공 속에서 전자선을 조사하고, 수μm2 정도의 미소영역에서 발생하는 특성X선을 파장분산형 또는 에너지분산형의 분광기로 분석함으로써, 그 영역의 원소를 정성분석, 정량분석한다. 최근에는 상기 분석을 시료면의 다수 개소에 대해 실시하고, 원소존재상태를 매핑분석할 수 있게 되었다. X선프로브마이크로애널리시스(EPMA, 파장분산형분광기 사용, 1949년에 프랑스의 캐스턴에 의해 개발된)와 에너지분산형 X선마이크로애널리시스(EDX)가 있다.
: MS Excel 2007
: MS Powerpoint 2007 
: MS Word 2007 
: 한글뷰어 2007
: Adobe Acrobat Reader 
: DWG Viewer 
: Autodesk Inventor View 
HOME > 메카백과 > 
메카딕 용어 상세보기
용어(한글)
대표이사 : 김현주